關鍵詞：霍爾集成電路 測試設備 高精度 

摘要：根據霍爾集成電路的檢測需要,提出了研發霍爾集成電路在線高低溫測試設備的必要性。通過霍爾集成電路測試需求分析,給出了測試全部參數的解決方案。其中包括測試系統結構以及測試程序流程。經測試驗證,研發的測試設備能完成霍爾集成電路在高低溫環境下各項性能參數的實時測試,使得高低溫下的測試結果更為準確,滿足用戶的使用需求。

傳感器世界雜志要求:

{1}來稿若有基金項目或其他資金資助項目，請詳細列出基金或其他資金項目類型、名稱及編號，每篇來稿的基金項目或其他資金資助項目原則上不超過3個。

{2}來稿請切勿一稿多投，切勿抄襲，文責自負。

{3}腳注用宋體小五號字。中國年號、古籍卷數請用中文數字。其他如公歷年份、期刊卷期號、頁碼等，均請用阿拉伯數字。

{4}來稿要求題材新穎、內容真實、論點明確、層次清楚、數據可靠、文句通順。

{5}論文類來稿附不超過200字的中英文摘要及關鍵詞3~8個。

注：因版權方要求，不能公開全文，如需全文，請咨詢雜志社