關鍵詞：光譜成像 空間分辨力 精確測量 

摘要：目前在光譜成像領域建立由空間分辨力的量化測量方法,但在探測器分辨能力不足時,其存在測量時成像位置不同帶來測量結果不同的現象。本文提出了一種適用于面陣成像光譜相機空間分辨力的精密測量方法,其基于黑白線對在精密平移下的光譜圖像,繪制出單個像素的灰度隨位移的變化曲線,理論上通過曲線的分割可獲得各種可能成像位置下灰度隨像素的分布結果,在實際操作時可僅通過一種曲線分割取點,直接得到各成像位置均能分辨的線對密度值。該方法有效地避免了現有方法在探測器分辨能力不足時的缺陷,通過對一臺面成像光譜相機的實驗測量驗證了其可行性。

光電工程雜志要求:

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