關鍵詞：射線衰減系數 x射線 面陣列探測器 圖像質量 

摘要：利用X射線數字成像技術檢測薄壁鋼件時,需根據鋼的等效射線衰減系數進行檢測工藝參數優化。然而,多色、寬束條件下的等效射線衰減系數難于獲得。為此,通過實驗方法,對鋼的等效射線衰減系數進行有效測量。首先,對等效射線衰減系數的測量方法及影響要素進行分析。然后采用面陣列射線探測器對0.05 mm厚的鋼箔測量射線強度的變化量,得到了30~150 kVp射線管電壓下的鋼的等效射線衰減系數。實驗結果表明:相較于單能、窄束射線條件下得到的衰減系數,實驗得到的等效射線衰減系數明顯偏大。假定射線探測器為理想探測器,結合不同管電壓的射線能譜,經計算得到的等效射線衰減系數與實驗結果趨于符合;借助于圖像質量指標分析得到的等效射線衰減系數值,則與實驗測量值完好符合。因此在射線成像檢測實踐中,有必要對等效射線衰減系數進行實際測量:此系數與通常單能、窄束射線條件下得到的衰減系數明顯不同,它與圖像質量指標存在直接的關聯。

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