關鍵詞：光鑷力譜 雙光阱 串擾 參數修正 

摘要：為了降低和消除光鑷力譜系統中雙光阱之間的干擾,進一步提高測試精度,本文對雙光阱光鑷系統中兩光束間串擾的成因及其對力譜測量的影響展開了研究.研究發現,高倍物鏡組與樣品池構成的光學結構會引起光束偏振態的改變,是雙光束串擾形成的主要因素;偏振分光棱鏡自身的分光特性是串擾產生的另一因素;光阱捕獲的微球,雖然改變了光束的形狀和傳播方向,但在光束串擾方面貢獻很小.雙光束的串擾信號疊加在探測的光強信號上,影響了光阱剛度和位移靈敏度的標定,最終導致力學測量的偏差.光鑷系統中雙光束的串擾量在同一次實驗的一定時間內基本穩定.根據雙光阱光鑷系統的這一特點,本文提出了實時測量雙光阱光鑷系統兩光阱獨立存在時和同時存在時雙光阱的剛度和位移靈敏度的方法,并經多次實驗求平均后得到兩種情況下雙光阱的剛度和位移靈敏度的比值,在后續實驗中,將該比值作為修正參數對實測的力譜曲線進行修正.結果表明,該方法有助于減小雙光束串擾的影響,優化力譜測量結果,測試精度提高3.4!.

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