關鍵詞：fpga 組合電路 單粒子多瞬態 軟錯誤 

摘要：為了評估數字電路的軟錯誤敏感性,研究了一種適于FPGA的單粒子多瞬態(SEMT)誘導的組合電路軟錯誤評估方法.考慮脈沖傳輸過程中受到的電氣屏蔽的影響和輻射粒子入射的隨機性,控制不同脈寬的SEMT脈沖對所有SEMT故障位置進行故障注入,統計錯誤結果.實驗結果表明,該方法能對單粒子兩個及以上瞬態誘導的組合電路軟錯誤敏感性進行分析,得到各故障位置敏感度信息,供電路設計前端參考改進.

微電子學與計算機雜志要求:

{1}作者是指科研內容的構思，具體研究工作的執行及撰稿執筆等方面的主要貢獻人員，能夠對論文的主要內容負責答辯的人員，是論文的法定主權人和責任者。作者署名不宜過多，一般不超過8名。

{2}所投稿件要求觀點明確，論據可靠，層次分明，論述精練，語言準確，符合規范。

{3}文題:力求簡明，能夠準確反映文章主題。中文文題一般不超過20個漢字，盡量不設副標題、不用標點符號、不使用縮略語，中英文題名含義應一致。

{4}參考文獻，用于說明文中引文的出處，一律放在文末。

{5}選用３~８個詞或詞組反映論文的中心內容，同時應翻譯為相應的英文關鍵詞。題名、作者姓名、作者單位、摘要、關鍵詞的英譯置于文末。

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