關(guān)鍵詞：聲波測(cè)井 錯(cuò)誤校驗(yàn)糾錯(cuò) 存儲(chǔ)模塊 檢測(cè)系統(tǒng) 

摘要：篩選高溫下穩(wěn)定的存儲(chǔ)器并設(shè)計(jì)有效的溫度補(bǔ)償算法是實(shí)現(xiàn)井下聲波測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)存儲(chǔ)的關(guān)鍵。為了快速測(cè)試不同存儲(chǔ)器在高溫下的故障情況以及錯(cuò)誤校驗(yàn)糾錯(cuò)算法的溫度補(bǔ)償效果,該文設(shè)計(jì)了基于通用測(cè)試座的硬件系統(tǒng),編寫(xiě)了基于MSComm控件的上位機(jī)控制軟件,開(kāi)發(fā)了模擬實(shí)際測(cè)井溫度環(huán)境的測(cè)試策略,并對(duì)幾種存儲(chǔ)器進(jìn)行了高溫老化實(shí)驗(yàn)。結(jié)果表明,存儲(chǔ)器在高溫下(175℃)會(huì)出現(xiàn)徹底損壞、比特位翻轉(zhuǎn)等故障,錯(cuò)誤校驗(yàn)糾錯(cuò)算法可以提高存儲(chǔ)器的使用溫度。該設(shè)計(jì)不僅可以對(duì)符合開(kāi)放NAND閃存接口協(xié)議的同類(lèi)存儲(chǔ)器進(jìn)行快速的高溫老化與篩選,而且對(duì)井下存儲(chǔ)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)有重要的參考意義。

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