關(guān)鍵詞：干涉 相位恢復(fù) 單幅條紋 正則化 

摘要：在利用干涉技術(shù)檢測(cè)溫度、壓力、形貌等物理量時(shí),往往需要通過(guò)各種調(diào)制手段將這些物理量的信息加載到干涉條紋圖樣中,并通過(guò)對(duì)其進(jìn)行分析而得到被測(cè)信息。當(dāng)實(shí)驗(yàn)條件不利于實(shí)驗(yàn)者實(shí)施移相、加載波等調(diào)制手段時(shí),探測(cè)器得到的往往是單幅閉合條紋,此時(shí)常用的移相解調(diào)技術(shù)和頻譜分析方法等不再適用。正則化相位跟隨(Regularized Phase Tracking,RPT)技術(shù)可以對(duì)單幅閉合條紋進(jìn)行相位恢復(fù),是目前針對(duì)單幅閉合條紋相位恢復(fù)最有效的方法。近年來(lái)研究者們從復(fù)雜干涉圖處理能力、算法穩(wěn)定性、相位恢復(fù)精度等方面對(duì)RPT技術(shù)進(jìn)行了改進(jìn)和發(fā)展,使其逐漸走向?qū)嵱没?。本文介紹了RPT技術(shù)用于單幅干涉圖相位恢復(fù)的基本原理,總結(jié)了近年來(lái)RPT技術(shù)的相關(guān)改進(jìn)與發(fā)展,例舉了采用RPT技術(shù)進(jìn)行相位恢復(fù)的應(yīng)用場(chǎng)合,并適當(dāng)推測(cè)RPT技術(shù)的未來(lái)發(fā)展方向。

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